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【2h】

Electronic Structure and Optoelectronic Properties of Bismuth Oxyiodide Robust against Percent‐Level Iodine‐, Oxygen‐, and Bismuth‐Related Surface Defects

机译：臭氧氧化物百分比碘化碘化百分比，氧气和铋相关表面缺陷的电子结构和光电性能

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Tahmida N. Huq; Lana C. Lee; Lissa Eyre; Weiwei Li; Robert A. Jagt; Chaewon Kim; Sarah Fearn; Vincenzo Pecunia; Felix Deschler; Judith L. MacManus‐Driscoll; Robert L. Z. Hoye;
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年度 2020
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