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Study of optimum growth condition of phase change Ge-Sb-Te thin films as an optical recording medium using in situ ellipsometry

机译：使用原位椭圆形测定的光学记录介质相变GE-SB-TE薄膜最佳生长条件的研究

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1. Optimum Growth Conditions of Ge-Sb-Te Alloy Thin Film Investigated by Ellipsometry [J] . Sung Hyuck AN, Xuezhe Li, Sang Youl KIM Japanese Journal of Applied Physics. Part 1, Regular Papers & Short Notes . 2004,第3期

机译：椭偏法研究Ge-Sb-Te合金薄膜的最佳生长条件
2. Study of the optical response of phase-change recording layer with zinc oxide nanostructured thin film. [J] . Kao TS, Fu YH, Hsu HW, Journal of Microscopy . 2008,第3期

机译：氧化锌纳米结构相变记录层的光学响应研究。
3. Study of the optical response of phase-change recording layer with zinc oxide nanostructured thin film [J] . Kao TS, Fu YH, Hsu HW, Journal of Microscopy . 2008,第Pta3期

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4. Optical property study of phase change optical recording thin film media [C] . Yanwu Lu, Beijing Univ. of Aeronautics, Astronautics, Optical Recording, Storage, and Retrieval Systems . 1996

机译：相变光学记录薄膜介质的光学性质研究
5. Growth characterization and optical modeling of hydrogenated silicon thin film solar cells based on spectroscopic ellipsometry. [D] . Ferreira, Gelio Mendes. 2004

机译：基于光谱椭偏法的氢化硅薄膜太阳能电池的生长表征和光学建模。
6. Phase-Change Memory Properties of Electrodeposited Ge-Sb-Te Thin Film [O] . Ruomeng Huang, Gabriela P. Kissling, Andrew Jolleys, 2015

机译：电沉积Ge-Sb-Te薄膜的相变记忆特性
7. Cross-Sectional Observation of Ge-Sb-Te Amorphous Thin Film for Phase Change Optical Recording [O] . Muneyuki Naito, Manabu Ishimaru, Yoshihiko Hirotsu, 2003

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8. In situ spectroscopic ellipsometry as a surface sensitive tool to probe thin film growth [R] . Liu, C 1999

机译：原位光谱椭偏仪作为探测薄膜生长的表面敏感工具

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