optical equipment; flatness; calibratinginterferometry; measurement; silica glass; mirrors; performance tests; mathematical models; reflectivity; standards; optical properties; least squares method; quality control;
机译:一种简单的干涉法,用于确定可重复性为1 nm的大型光学平板的平坦度
机译:基于半导体谐振光学非线性的SAGNAC和MACH-ZEHNDER超快全光干涉仪开关的比较
机译:考虑到相对湿度变化,使用三平板测试法对光学平板进行绝对校准
机译:光学平面的绝对校准:干涉测量的长期可重复性
机译:基于干涉式SOA的光开关,用于通信网络和采样系统中的全光处理。
机译:结合光学干涉条纹图的光谱校准技术增强光谱域光学相干层析成像的灵敏度
机译:ELT自适应镜的光学校准M4:干涉式测试塔的设计,对准和验证
机译:光学孔径合成。宽场干涉成像技术的比较