首页> 美国政府科技报告 >Combined Electron Microscope, Electron Diffraction, and Electron Microprobe Analysis of Identical Microstructures in the Debond Area of a Dissimilar Metal Joint
【24h】

Combined Electron Microscope, Electron Diffraction, and Electron Microprobe Analysis of Identical Microstructures in the Debond Area of a Dissimilar Metal Joint

机译:异种金属接头脱粘区内相同微观结构的电子显微镜,电子衍射和电子探针组合分析

获取原文

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号