IMPURITIES; INTERFACE STABILITY; MIGRATION; SILICON; SILICON OXIDES; IMPURITY; INTERFACE STABILITY; SILICON OXIDE;
机译:结合使用全反射X射线荧光光谱法和连续蚀刻硅来表征SiO2 / Si界面处的杂质分布
机译:通过电场增强发射在Si / SiO2界面上很好地探测杂质势
机译:使用多孔氧化铝上硅模板技术对Si表面和Si / SiO2界面进行纳米结构化。 Si / SiO2界面的电气特性
机译:SiO2 / Si和Si3N4 / SiO2 / Si纳米界面的折射率和界面态的实验和计算研究
机译:使用光谱模型和圣诞节岛雷达系统收集的数据,对中层和下层热圈中的赤道半年度振荡和准两日波进行分析。
机译:室温下电子辐照在金属氧化物/ Si界面上形成无定形SiO2;在界面上写入电子束
机译:SiO2缺陷可能是SiC ∕ SiO2系统中近界面陷阱的起源:系统的理论研究