The Application of the Scanning Electron Microscope to Studies of Current Multiplication, Avalanche Breakdown and Thermal Runaway. Part 2 - General Studies, Mainly Non-Thermal

著录项

• 作者

  Sulway, D. V.; Thornton, P. R.; Wayte, R. C.;

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• 作者单位

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• 年度 1968
• 页码 p.1-47
• 总页数 47
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Current density ; Diodes ; Electric current ; Electron microscopes ; Dielectric properties ; Gunn effect ; Semiconductor devices ; Thin films ; Transport properties;

  机译：电流密度;二极管;电流;电子显微镜;介电特性;耿氏效应;半导体器件;薄膜;输运特性;