Electric Contacts ; Semiconductor Switches ; Beryllium Alloys ; Breakdown ; Current Density ; Damage ; Experimental Data ; Failures ; Filaments ; Germanium Alloys ; Gold Alloys ; Photoconductivity ; Scanning Electron Microscopy ; Service Life ; Temperature Dependence ; Tables(data);
机译:掺杂触点,用于高寿命的光激活,高增益GaAs光电导半导体开关
机译:微波检测的光感应电流瞬态光谱法(MD-PICTS)和微波检测的光导率(MDP)表征半导体中的非接触电缺陷
机译:砷化镓光电导半导体开关中电流振荡的机理
机译:GaAs光电导开关的高电流密度触点
机译:光导半导体开关中高场传输的仿真。
机译:CuO纳米线的最大场发射电流密度:使用与缺陷相关的半导体场发射模型和原位测量的理论研究
机译:用于高寿命光学激活的高增益GaAs光电导半半导体开关的掺杂触点
机译:用于光电导半导体开关的高电流密度触点。