机译:用中子活化法测量中子能量为14.1 MeV和14.8 MeV时的232Th(n,2n)231Th反应截面
机译:使用中子活化技术在中子能量5.9±0.5和15.5±0.7 MeV下测量〜(238)U的中子俘获截面
机译:使用中子激活技术测量〜(232)〜中子捕获2.0-5.0 mev的横截面
机译:用于Cr和Ni的激活横截面的基准测试使用Quasi-monoeNergetic中子低于35 MeV
机译:从50到300 MEV的SULFUR-32(γ,中子-质子)磷30截面的性质。
机译:CVD金刚石至70meV质子快节中子和200meV接头的辐射耐受性研究
机译:82 - 中子封闭壳附近的某些erbium同位素的alpha腐烂属性
机译:使用激活技术测量能量区2.0-7.7 meV中sup 115 In和sup 197 au的中子俘获横截面测量