Thin films; Atoms; Nitrogen; Gallium nitrides; Aluminum nitrides; Low power; High temperature; Dielectrics; Epitaxial growth; Semiconductor devices; Silicon; Electric discharges; Nonequilibrium flow; Supersonic characteristics; Supersonic nozzles; Electric arcs; Electrical corona; Oxynitrides; Molecular beam epitaxy;
机译:通过嵌入杂化AlN缓冲层在石墨烯/蓝宝石衬底上外延生长和表征GaN薄膜
机译:通过嵌入杂化AlN缓冲层在石墨烯/蓝宝石衬底上外延生长和表征GaN薄膜
机译:AlN,GaN和Al {sub} xGa {sub}(1-x)N的外延薄膜和图案化结构的生长,掺杂和表征
机译:沉积在含有非常薄的Al层的Si(111)衬底上的AlN和GaN薄膜的生长和表征
机译:使用超音速分子射流生长和表征未掺杂和掺杂的硅薄膜。
机译:在不同温度下通过脉冲激光沉积在AlN / Si异质结构上外延生长的GaN薄膜的微观结构和生长机理
机译:通过直接和反应性脉冲激光烧蚀制备III族氮化物薄膜AlN,GaN,InN。