首页> 美国政府科技报告 >System for Measuring Seebeck Coefficient and Resistivity
【24h】

System for Measuring Seebeck Coefficient and Resistivity

机译:测量塞贝克系数和电阻率的系统

获取原文

摘要

A system has been devised which combines a rapid methodnfor measuring Scheck coefficient with the Dauphines and Mouser circuit for measuring resistivity. This system can be UL3d from liquid helium temperature to 1000°C. A temperature range from room temperature to 1000°C and back can be covered in less than 3 hours giving about 20 data, points per hour for each of the two, quantities measured.

著录项

  • 作者

    J. E. IVORY;

  • 作者单位
  • 年度 1964
  • 页码 1-19
  • 总页数 19
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 工业技术;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号