微纳米热电器件塞贝克系数测量方法

摘要

本文提出了一种测量微纳米热电器件塞贝克系数的交流加热-直流探测法。两种不同热电材料连结而成的样品两端与热沉相连放置在真空环境中，通一频率为ω、幅值为I0的交变电流I0sin(ω t)，焦耳热效应会在被测样品上产生一个抛物型温度分布，被测材料结点处的温度为一个稳态分量和两个谐波分量叠加。对于热电材料，由于塞贝克效应，结点处的稳态温度分量与热沉端形成的温差将会产生直流塞贝克热电势。获取直流电压信号，同时理论求解稳态温差，即可得到被测热电材料的塞贝克系数。通过直径为25.4 μ m的K 型热电偶测试实验，验证了该方法的有效性。