Integrated circuits ; Semiconductor devices ; Failure(Electronics) ; Silicon ; Aluminum ; Gold ; Thermal stresses ; Electrical properties;
机译:先进MOS I / O保护设备中电气过应力故障的电路级电热仿真
机译:集成电路中电超负荷热故障的仿真
机译:环境温度升高对承受长电过载脉冲的BCD ESD保护器件的热击穿行为的影响
机译:半导体器件电气过应力的热失效模拟
机译:非硅器件的静电放电和电气过应力故障。
机译:通过液滴在基于硅的纹理化设备上的电阻抗,可高度灵敏,实用地检测植物病毒
机译:硅MOS器件中的电气过应力和静电放电故障