Failure(Electronics); Protective equipment; Electric discharges; Semiconductor devices; Electrical networks; Integrated circuits; Computerized simulation; Electrostatic charge; Protection;
机译:环境温度升高对承受长电过载脉冲的BCD ESD保护器件的热击穿行为的影响
机译:先进MOS I / O保护设备中电气过应力故障的电路级电热仿真
机译:具有电过应力保护功能的5.6 Gb / s接收器,用于45 nm CMOS中的GDDR
机译:先进的nMOS ESD I / O保护器件中电过载的电热模拟
机译:非硅器件的静电放电和电气过应力故障。
机译:偏心的循环电场流分级分离亚微米颗粒
机译:硅MOS器件中的电气过应力和静电放电故障