机译:通过TEM在稍微偏斜(0 0 1)Si衬底上生长的Ge_(0.4)Si_(0.6)薄膜中通过TEM观察到的三重位错节点
dislocation; elastic field; thin-film silicon; transmission electron microscopy;
机译:通过TEM在稍微偏斜(0 0 1)Si衬底上生长的Ge_(0.4)Si_(0.6)薄膜中通过TEM观察到的三重位错节点
机译:在Si_(0.6)Ge_(0.4)和Si_(0.5)Ge_(0.5)虚拟衬底上生长的拉伸应变Si层:I.膜厚和形貌
机译:在稀薄的Si_(0.4)Ge_(0.6)/ LT-Si_(0.4)Ge_(0.6)/ Si(001)虚拟衬底上生长的应变Ge量子阱中的高迁移率空穴
机译:降低绝缘体衬底上硅上的Si_(0.82)Ge_(0.18)膜中的螺纹位错密度的机制
机译:在多结太阳能电池中使用CDCl2,MgCl2和ZnCl2对CD0.6ZN0.4TE薄膜的钝化研究
机译:(100)/(001)取向四方外延Pb(Zr0.4Ti0.6)O3薄膜在电场作用下超快90°域转换的原位观察
机译:在Si_(0.75)Ge_(0.25)虚拟衬底上生长的应变补偿Si / Si_(0.62)Ge_(0.38)量子阱的发光