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机译:嵌入式非吸收均匀层的多层厚度椭偏数据的清晰解析反演
Optical properties; Thin films; Ellipsometry;
机译:嵌入式非吸收均匀层的多层厚度椭偏数据的清晰解析反演
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机译:对影响微层共挤薄膜层厚均匀性和层破裂的因素的研究。
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机译:sRm-2530的制备和认证,椭圆参数Delta和psi以及硅上二氧化硅层的衍射厚度和折射率