Das flexible, tragbare Oberflachenmessgerat Mobile S ermoglicht auf einfachste Weise dreidimensionale Mes-sungen mit Auflosung im Nanometerbereich. Wo die Optik an ihre Grenzen stosst, misst es prazis kleinste Strukturen, wobei die Anwendungen von Rauheits-messungen uber Morphologie, Tribologie, Defekt- und Schadenserkennung auf Hightech-Oberflachen bis zu quantitativer Analyse nanostrukturierter Oberflachen oder optischer Diffraktionsmuster reichen.
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机译：灵活的便携式表面测量设备《 Mobile S》以最简单的方式实现了纳米级分辨率的三维测量。当光学达到极限时，它可以精确地测量最小的结构，其应用范围包括通过形态学，摩擦学，高科技表面上的缺陷和损坏检测进行粗糙度测量，纳米结构表面或光学衍射图的定量分析。
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