Mikroanaliza rentgenowska jest metoda okreslania skladu chemicznego mikroobszarow materialu, w ktorej wykorzystuje sie fakt, ze intensywnosc charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego pierwiastka, powstajacego w wyniku bombardowania probki wiazka elektronow jest proporcjonalna do koncentracji tego pierwiastka. Waznym i trudnym problemem w ilosciowej mikroanalizie rentgenowskiej jest oznaczenia stezenia pierwiastkow lekkich (Z < = 9). Wiekszy stopien trudnosci spowodowany jest zarowno warunkami eksperymentalnymi, jaki i dobraniem wlasciwego modelu korekcyjnego. Powszechnie stosowana metoda korekcji ZAF [1,2] nie zapewnia poprawnych wynikow analizy ilosciowej w zakresie pierwiastkow o liczbach porzadkowych Z < = 9. Opracowane i uzywane najczesciej w ostatnich latach metody korekcji dla pierwiastkow lekkich, do ktorych zalicza sie metode Se-wella, Love'a, Scotta (SLS) [3, 4], metode Bastina, van Loo, Heijligersa (BLH) [5, 6], metode Pouchou, Pichoir (PAP) [7, 8] nie daja zadowalajacych wynikow dla wszystkich tych pierwiastkow. Stwierdzono, ze zadna z nich nie nadaje sie do korekcji berylu, duze bledy otrzymuje sie rowniez w niektorych przypadkach dla boru, wegla, azotu, szczegolnie w zwiazkach dwoch pierwiastkow lekkich.
展开▼
