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一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法

摘要

本发明公开了一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法,包括如下步骤:步骤一:根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例;步骤二:根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间,脱模剂的种类及数量后进行溶样处理;步骤三:进一步确定X射线荧光测试条件后,采用已知化学分析的标准样品,按上述所确定的测试方法,进行测试,进行工作曲线标定,后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。本发明改变了X射线荧光分析的传统观念,对硅溶胶液体样品采用高温熔融的方法把液体样品转化成固体样品进行测试,可以实现对硅溶胶液体样品中钠硅等轻元素的准确分析,并可以推广到其它液体样品的测试。

著录项

  • 公开/公告号CN109738472A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精谱科技有限公司;

    申请/专利号CN201910147521.2

  • 发明设计人 苏建平;郭晓明;乔文韬;

    申请日2019-02-27

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N23/2202(20180101);

  • 代理机构31224 上海天翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人吕伴

  • 地址 201806 上海市嘉定区西冈身路569号

  • 入库时间 2024-02-19 09:48:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20190227

    实质审查的生效

  • 2019-05-10

    公开

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