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机译:在硅蒸气不同分压下平衡条件下生长的SiC单晶非化学计量点缺陷形成的理论分析
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机译:Czochralski方法生长的无位错硅单晶中生长和生长的微缺陷形成的理论和实验研究
机译:CdF2和非化学计量的Cd1-xRxF2 + x相(R =稀土和铟)的生长和缺陷晶体结构。第3部分。生长的Cd0.90R0.10F2.10(R = Sm-Lu,Y)单晶的晶体结构
机译:物理气相传输生长的4H-SiC单晶中缺陷微结构演变的同步X射线形貌研究
机译:通过化学气相沉积生长的金刚石单晶的光学缺陷中心和表面形态。
机译:校正单层部分压力辅助生长由低压化学气相沉积种植的石墨烯:含义用于高性能石墨烯FET器件
机译:CDF2的生长和缺陷晶体结构和非核心CD1-X R X F2 + X相(R =稀土元素和in)。第3部分晶体结构的晶体结构为0.90 r 0.10f2.10(r = sm-lu,y)单晶
机译:单晶硅上LpCVD(低压化学气相沉积)钨膜隧道形成条件