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E-optimal designs when errors follow a conditional autonormal process

机译:有条件的自动正态过程发生错误时的电子最优设计

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摘要

This paper deals with E-optimal incomplete block designs in blocks of size three when observations within each block are correlated according to a conditional autonormal process. The optimality problem is addressed within various subclasses of connected designs under generalized least squares estimation of treatment contrasts.
机译:当根据条件自正态过程将每个块内的观测值关联起来时,本文讨论了大小为3的块中E最优不完整块设计。在处理对比度的广义最小二乘估计下,在连接设计的各个子类中解决了最优性问题。

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