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A scanning electron microscope for ultracold atoms

机译:用于超冷原子的扫描电子显微镜

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摘要

We propose a new technique for the detection of single atoms in ultracold quantum gases. The technique is based on scanning electron microscopy and employs the electron impact ionization of trapped atoms with a focused electron probe. Subsequent detection of the resulting ions allows for the reconstruction of the atom's position. This technique is expected to achieve a much better spatial resolution compared to any optical detection method. In combination with the sensitivity to single atoms, it makes new in situ measurements of atomic correlations possible. the detection principle is also well suited for addressing of individual sites in optical lattices.
机译:我们提出了一种检测超冷量子气体中单个原子的新技术。该技术基于扫描电子显微镜,并使用聚焦电子探针对捕获的原子进行电子碰撞电离。随后对所得离子的检测可以重建原子的位置。与任何光学检测方法相比,该技术有望实现更好的空间分辨率。结合对单个原子的敏感性,它使得对原子相关性进行新的原位测量成为可能。该检测原理也非常适合解决光学晶格中的各个位置。

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