机译:通过扫描透射电子显微镜进行参考纳米计量
scanning transmission electron microscopy (STEM); critical dimension (CD); critical dimension atomic force microscopy (CD-AFM); tip characterization; traceability;
机译:通过扫描透射电子显微镜进行参考纳米计量
机译:通过共聚焦扫描显微镜,扫描电子显微镜和透射电子显微镜表征降解油的微色球财团
机译:通过像差校正透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜和电子能量损失谱分析了对Si(001)上高k氧化镧薄膜的退火效应
机译:SEM(扫描电子显微镜)中的STEM(扫描透射电子显微镜),用于故障分析和计量
机译:使用扫描透射电子显微镜的有序/无序系统中的原子计量。
机译:扫描电子显微镜与透射电子显微镜进行材料特征:高强度钢的比较研究
机译:SEM中的低温扫描电子显微镜(SEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)-用于环境中生物和有机矿物界面的表征
机译:扫描透射电子显微镜和扫描隧道显微镜的图像潜力。