机译:VLSI器件的高能重离子测试,用于单事件触发和闩锁
High-energy heavy ions; single event effect; linear energy threshold; radiation hardened; upset and latch up;
机译:VLSI器件的高能重离子测试,用于单事件触发和闩锁
机译:电子设备单事件击穿测试期间的重离子线性能量转移测量
机译:VLSI设备的重离子测试,以了解单事件效应
机译:在VLSI电路中闩锁单事件翻转错误的可能性
机译:静态随机存取存储器中多个细胞不适的模式识别:实验测试结果与单事件不适机制的相关性。
机译:安慰剂对照研究用于评估重度大麻使用者酒精和大麻中毒期间的标准化现场清醒试验性能以及用于检测口腔液中THC的收集点测试设备的准确性
机译:三维堆积SRAM中重离子诱导的单一事件的评价方法
机译:用于256k静态Ram(随机存取存储器)的sEU(单事件翻转)测试技术以及重离子和质子引起的扰乱的比较