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机译:热激电流测量确定Tl_2Ga_2S_3Se层状晶体的俘获中心参数
chalcogenides; defects; electrical properties; Semiconductors;
机译:热激电流测量确定Tl_2Ga_2S_3Se层状晶体的俘获中心参数
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机译:CdZnTe辐射探测器的补偿和陷阱研究热电发射光谱,热刺激电导率和电流 - 电压测量