机译:原位椭偏仪在半导体薄膜光学涂层制备中的应用
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机译:原位椭偏仪在控制宽带半导体异质外延和表征其光学特性中的应用
机译:使用参数灵敏度分析对半导体器件制造中的光谱椭圆偏振法进行高效的薄膜堆叠表征
机译:在大面积镀膜工厂中通过椭圆偏振法原位光学测量透射率和反射率,测量玻璃,条带和纤网
机译:实时原位椭偏仪可控制减反射膜在半导体激光面上的沉积。
机译:低温固溶处理的非晶态电子结构薄膜晶体管应用的金属氧化物半导体
机译:空气动力学应用光学传感器涂层的制造与表征研究