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公开/公告号CN109612942B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-16
原文格式PDF
申请/专利权人 北京环境特性研究所;
申请/专利号CN201910007001.1
发明设计人 修鹏;徐文斌;陈伟力;郑崇;李军伟;
申请日2019-01-04
分类号G01N21/21(20060101);
代理机构11609 北京格允知识产权代理有限公司;
代理人张沫;周娇娇
地址 100854 北京市海淀区永定路50号
入库时间 2022-08-23 11:39:33
机译: 适用于分子束外延系统RHEED / LEED接口系统的同时改造的基于椭偏仪/旋光仪的过程监控系统和使用方法
机译: 一种使用椭偏仪的设备生产方法
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机译:数值椭偏仪:在N-k平面中针对金属,半导体和绝缘体的特定组合的椭偏仪分析
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机译:光谱椭偏仪和显微椭偏仪