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机译:傅里叶分析近场极化法用于测量薄膜的局部光学性质
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机译:半导体WS_2薄膜的光学和电学性质:从宏观到局部探针测量
机译:用开尔文力显微镜和近场光学刺激测量Alq3薄膜的光图案化表面电势
机译:使用近场极化法测量聚合物薄膜的局部衰减和延迟
机译:基于AFM的聚合物薄膜机械性能的测量以及几乎折射率匹配的腔的光路长度的确定。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:使用傅里叶变换的表面和薄膜形貌描述,从非标准光学测量获得
机译:银和氧化银薄膜光学性能的测量