The University of Texas at Austin.;
机译:使用公共路径光学干涉法的透明导电膜涂覆聚合物基材的弯曲机械特性测量
机译:纳米压痕技术测量聚合物薄膜的力学性能
机译:基于光学技术的标记跟踪,用于在聚合物薄膜中测量电场引起的机械应变
机译:聚合物薄膜热力学性能的测量。
机译:通过AFM压痕表征聚合物薄膜和聚合物纳米复合材料的局部机械性能。
机译:掺b纳米粒子-聚合物复合材料光子应用薄膜:结构和光学性质
机译:共分路径光学干涉法的透明导电膜涂层聚合物基材的弯曲机械特性测量