（3533）蛍光X線膜厚計　新型

摘要

セイコーインスツル株式会社（略称:SII、社長:新保雅文、本社口千葉県千葉市）の100％子会社で計測分析装置の製造販売を行っているエスアイアイ·ナノテクノロジー株式会社（略称"SIIナノテク、社長日川崎賢司氏、本社:千葉県千葉市）は、めっき·蒸着等の極微小部のナノオーダー膜厚を高精度に測定する蛍光X線膜厚計「SFT9500Xシリーズ」を12月19日に発売した。なお出荷は2012年2月上旬の予定。