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Van der waals BP/InSe heterojunction for tunneling field-effect transistors

机译:范德瓦尔斯BP / Inse异质结用于隧道场效应晶体管

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摘要

Introducing heterogeneous architecture is a prospective way to improve tunneling field-effect transistors (TFETs). We investigate the van der Waals (vdW) heterojunction based on monolayer black phosphorene and indium selenide (BP/InSe heterojunction) and the double-gated 10-nm TFETs based on the vdW BP/InSe heterojunction with the contact length and position by using the ab-initio quantum transport simulations. The vdW BP/InSe heterojunction shows a type-II band edge alignment. The optimal vdW BP/InSe heterojunction TFETs have a 1-nm-length BP/InSe heterojunction at the channel's left and right sites (1L and 1R for short). Novelty, the BP/InSe heterojunction TFETs with 1L and 1R configurations are n- and p-type devices, respectively, and corresponding high on-currents of 240 and 408 mu A/mu m are obtained for high-performance application (off-current: 0.1 mu A/mu m) at a very low supply voltage (0.3 V).
机译:引入异质结构是提高隧道场效应晶体管(TFET)性能的一种有前途的方法。我们利用从头算量子输运模拟研究了基于单层黑磷烯和硒化铟的范德瓦尔斯(vdW)异质结(BP/InSe异质结)和基于vdW BP/InSe异质结的双门极10nm TFET的接触长度和位置。vdW BP/InSe异质结呈现II型带边排列。最佳vdW BP/InSe异质结TFET在通道的左右位置(简称1L和1R)有一个1nm长的BP/InSe异质结。新颖之处在于,具有1L和1R配置的BP/InSe异质结TFET分别为n型和p型器件,并且在极低电源电压(0.3 V)下获得了240和408μA/μm的高性能应用(关断电流:0.1μA/μm)。

著录项

  • 来源
    《Journal of Materials Science》 |2021年第14期|共12页
  • 作者单位

    North China Univ Technol Coll Mech &

    Mat Engn Beijing 100144 Peoples R China;

    North China Univ Technol Coll Mech &

    Mat Engn Beijing 100144 Peoples R China;

    Donghua Univ Coll Mech Engn Shanghai 201620 Peoples R China;

    Peking Univ Dept Phys State Key Lab Mesoscop Phys Beijing 100871 Peoples R China;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 工程材料学;
  • 关键词

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