机译:用26 <= Z <= 83的元素中的39.5,40.1和45.4keV光子测量39.5,40.1和45.4keV光子的测量
IKG Punjab Tech Univ Dept Phys Kapurthala 144601 India;
Panjab Univ Dept Phys Chandigarh 160014 India;
Panjab Univ Dept Phys Chandigarh 160014 India;
Panjab Univ Dept Phys Chandigarh 160014 India;
DAV Coll Dept Phys Jalandhar 144004 India;
Panjab Univ Dept Phys Chandigarh 160014 India;
X-ray fluorescence (XRF); Photon scattering; Photon-electron interactions; X-rays; Form factor;
机译:用26 <= Z <= 83的元素中的39.5,40.1和45.4keV光子测量39.5,40.1和45.4keV光子的测量
机译:Nb和Mo元素在30-50 keV能量范围内的光子的总瑞利散射截面的计算
机译:使用5.96 keV光子测量元素73 <= Z <= 83的M壳X射线产生截面
机译:662 keVγ光子双光子康普顿散射的单微分碰撞截面的测量
机译:从10--25 keV质子的碰撞中,氦的n = 2激发的总横截面的测量。
机译:在... ... ...公式下质子-质子碰撞中包容性隔离光子和光子+射流产生的微分截面的测量
机译:对于元素Z = 1至100,电子弹性散射横截面为1keV至100meV