退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN111694043A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中派科技(深圳)有限责任公司;
申请/专利号CN202010698734.7
发明设计人 彭旗宇;杨静梧;谢思维;王宇黎;袁东升;
申请日2020-07-20
分类号G01T1/202(20060101);G01T1/16(20060101);
代理机构11481 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人徐丁峰;戴亚南
地址 518063 广东省深圳市南山区科技南十二路18号长虹科技大厦903
入库时间 2023-06-19 08:22:20
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-09-12
授权
发明专利权授予
机译: 双光子测量装置,双光子测量装置的操作方法以及双光子测量数据的分析和显示方法
机译:使用光子传感器的微带阵列天线的光子传感器近场测量近场测量 - 使用光子传感器和开放式波导的平面近场测量比较,以及远场测量
机译:基于单光子Ccd的X线摄影设备X射线光谱原位测量装置
机译:使用超导量子位设备对传播的微波光子进行量子无损测量:检测传播的传声器口光子而不吸收
机译:测量多像素光子计数器(MPPC)作为未来IACTS的光子计数装置的基本特性
机译:W玻色子+光子和Z玻色子+光子的横截面时间分支比的测量,并在1.8 TeV下寻找异常的W玻色子-光子和Z玻色子-光子耦合。
机译:用于15 MV光子束的增强型动态楔形和治疗计划系统(TPS)计算的线性阵列测量并与电子门成像设备(EPID)测量进行比较
机译:与测量设备无关的量子密钥分配 全光子自适应贝尔测量
机译:高光子能量(50-300 keV)下高光子源插入装置的高级光子源插入装置的性能