高分子化合物と異種材料接合界面の分析技術

摘要

異種材料の接合界面の観察方法として多くの 方が最初に思ぃ浮かべるのはSEM (Scanning Electron Microscope、走査型電子顕微鏡）や TEM (Transmission Electron Microscope、透 過型電子顕微鏡）などの断面観察と思う。これ らは界面の形態観察には非常に有用な手法であ るが、化学的な情報はEDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy>ェネルギー分散型X線分 光法）などによる元素分析にとどまる。