Электрически активные центры захвата носителей заряда в диоксиде кремния SiO_2 и кристаллах слюды

摘要

Исследование электрически активных центров захвата (ЭАЦЗ) в слюде проводилось методом электретной поляриметрии в электрическом газовом коронном разряде (ЭГКР) и методом токов термостимулированной деполяризации ТСД. Представлены экспериментальные результаты исследования влияния радиационной и термической модификации на электретные свойства слюды. Экспериментально доказан факт тушения электретной поляризации в слоях диоксида кремния, полученных в результате высокотемпературного отжига монокристаллов слюды мусковит. Показано, что ЭАЦЗ в кристаллах слюды являются радиационные вакансионные дефекты K~+OH ионной кристаллической подрешетки слюды.