首页> 外文期刊>Автоматизация и современные технологии >ВЫБОР КОНТРОЛЬНЫХ КАРТ ДЛЯ МОНИТОРИНГА МНОГОПАРАМЕТРИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА
【24h】

ВЫБОР КОНТРОЛЬНЫХ КАРТ ДЛЯ МОНИТОРИНГА МНОГОПАРАМЕТРИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА

机译:选择控制卡以监控多辐射流程

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

Рассмотрен статистический контроль технологического процесса, при котором качество изготавливаемого изделия характеризуется несколькими коррелированными показателями. Для мониторинга процесса возможно использование различных статистических инструментов: контрольной карты Хотеллинга, карты многомерных кумулятивных сумм и др. Предложена методика выбора типов карт в зависимости от особенностей конкретного технологического процесса.
机译:考虑了技术过程的统计控制,其中制造产品的质量的特征在于几个相关的指标。 为了监控该过程,可以使用各种统计工具:Widlang控制卡,多维累积总和卡等。提出根据特定技术过程的特性选择卡片类型的方法。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号