不良の統計分析や保存／活用機能があり、工程改善や設計改善の支援も行える：基板はhだ検査装置

摘要

はhだの検査を中心に、部品の有無や極性など含めた実装基板の外観検査を総合的に行うのが、基板はhだ検査装置である。基板の高密度化により目視検査が不可能になったことやテスタのピンが立たなくなったことから、高密度基板や高い信頼性を要求される基板では必須の装置となっている。 また、良否判別のみならず工程改善を支援する情報提供機能をもった機種もある。 たとえば、パレート図などを用いた不良の統計的な分析機能である。 VT- WIN II（写真）は、不良の統計データ分析（図）に加え、検査中の不良画像もカラー画像で保存／活用できる機能をもっており、不良画像による工程改善や設計改善の支援が行える。