暗号ICで発生するサイドチャネル解析におけるノイズの等価電流源モデルに基づく一検討一SASEBO-Gを用いた検討

摘要

暗号回路のサイドチャネル攻撃に対する安全性を評価する上で、サイドチャネル解析におけるノイズ成分の予測は重要な課題である。特に暗号IC内部で発生するノイズは、回路動作から推察すると暗号処理の進行に伴って変化する。そのため、測定によりノイズだけを同定するのは容易ではない。本報告では、筆者らが提案している暗号ICの等価電流源モデルに基づき、暗号IC内部で発生するノイズの変動を調査した。暗号回路への入力データ（平文）を一定とした時の電流源の標準偏差を計算し、その暗号処理中の変動を確認した。その結果、定性的な傾向として電流源振幅と標準偏差との間に正の相関があることを確認した。