ICチップレベル電源雑音シミュレーションによる暗号モジュールのサイドチャネル漏洩評価

摘要

本研究は半導体集積回路（ICチップ）技術による暗号モジュールにおけるサイドチャネル情報漏洩に関して、その観測量のひとつとして電源ノイズに着目した。回路動作による消費電流モデルと、回路の電源供給網モデルを組み合わせ、チップレベルの電源雑音シミュレーションにより解析した結果を報告する。