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【24h】

スピンエッチングによるΦ300mmウェハのステイン膜形成

机译:通过自旋蚀刻染色φ300mm晶片的膜形成

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摘要

従来、浸漬式によるステイン膜(ポーラスシリコン)形成が報告されている。スピンエッチングを用いた表面処理技術としてステイン膜形成を試みる。 ステイン膜のアプリケーションとしては、薄ウェハ化後の裏面膜絶縁、保護、3次元実装等への応用が考えられる。ウェハは300mmP型ウェハを使用する。 HF:HNO{sub}3:H{sub}2Oを用い薬液組成を検討した。 スピンエッチングではウェハ上の薬液の流れ方でステイン膜厚の分布が変化するため、エッチングパラメータの最適化を行った。 その結果ステイン膜をウェハ全面で均一に形成できた。
机译:通常,已经报道了通过浸渍型形成的染色膜(多孔硅)。 试图使用自旋蚀刻作为表面处理技术的污渍膜形成。 作为染色薄膜的施加,可以考虑薄薄膜隔离,保护,三维安装等。 晶片使用300 mm p型晶片。 HF:HNO {Sub} 3:H {Sub} 2 O用于检查化学成分。 在自旋蚀刻中,染色膜厚度的分布在晶片上的化学溶液流动变化,因此进行了蚀刻参数的优化。 结果,可以在晶片的整个表面上均匀地形成污渍膜。

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