X線自由電子レーザー“SACLA”による利用研究の進展

摘要

XFELは放射光とは異なり、強力な光パルスによって生じる過渡的な現象を捉えることに適した光源であるため、どちらかと言えば、高強度レーザーに近い測定手法を必要とする。さらに、位直や強度、スペクトルにおけるXFEL特有のゆらぎがあり、光源情報を含めたシングルショットでのデータ取得が必要とされる。ユーザー、特に放射光経験のある方にとしては、扱いにくい光源のように思われるかもしれないが、XFELが放つ、高強度、超短パルス、コヒーレントなX線は、様々な物理現象を解明するばかりでなく、新たな物理現象を作り出すことも可能であり、従来の光源にない魅力を秘めている。XFELを起点とした新しい測定手法や利用研究を開拓していきたい。