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【24h】

表面分析の概要

机译:表面分析概述

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摘要

近年,製品開発や不具合の対応などで表面や界面の構造·組成の把握は益々重要になっており,様々な表面分析方法が用いられます。しかし,それぞれの表面分析の特性がわからず,どの分析方法を採用したらよいのか多くの人が難しいと感じているのではないでしょうか。そこで,表面分析の基礎の基礎として,代表的な表面分析であるEPMAやAES,XPS,SIMS,TOF-SIMSを簡潔に解説します。
机译:近年来,由于产品开发和缺陷,掌握表面和接口的结构和组成越来越重要,并且使用各种表面分析方法。 然而,不是每个表面分析的特征不知道,并且可以采用哪种分析方法或许多人感到困难? 因此,作为表面分析的基础,我们将简要解释代表性表面分析EPMA,AES,XPS,SIMS和TOF-SIM。

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