...
首页> 外文期刊>環境と測定技術 >表面分析の概要
【24h】

表面分析の概要

机译:表面分析概述

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

近年,製品開発や不具合の対応などで表面や界面の構造·組成の把握は益々重要になっており,様々な表面分析方法が用いられます。しかし,それぞれの表面分析の特性がわからず,どの分析方法を採用したらよいのか多くの人が難しいと感じているのではないでしょうか。そこで,表面分析の基礎の基礎として,代表的な表面分析であるEPMAやAES,XPS,SIMS,TOF-SIMSを簡潔に解説します。
机译:近年来,在产品开发和故障排除中了解表面和界面的结构和组成变得越来越重要,并且使用了各种表面分析方法。但是,由于许多人不了解每种表面分析的特征,因此可能会很难决定使用哪种分析方法。因此,作为表面分析的基础,将对作为典型表面分析的EPMA,AES,XPS,SIMS和TOF-SIMS进行简要说明。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号