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不純物添加Auを用いた多端子素子におけるスピンホール効果の膜厚依存性

机译:膜厚度的在多端子器件的自旋霍尔效应依赖使用掺杂金

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摘要

巨大スピンホール効果の起源として共鳴スキュー散乱の寄与が理論予測されており、不純物添加の影響を調べる系統的な実験を行ってきた。一方で、Auホールクロスの膜厚の増加に伴いスピンホール角が急激に減少する実験結果も得られており、界面および表面での散乱により巨大なスピンホール効果が引き起こされていることも示唆される。そこで、今回はAuに不純物を添加したホーノレクロスにおいて、スピンホール効果の膜厚依存性を調べた。
机译:共振歪斜散射的贡献是理论上的,并预测为巨型旋转孔效应的来源,并进行了系统的实验,以研究杂质加入的影响。 另一方面,随着Au孔交叉的厚度的增加,也快速获得旋转孔角,并且还提出通过散射在界面和表面上获得结果,并且散射也可以获得表面导致巨大的旋转孔效应。NS。 因此,这次,在加入Au的封闭孔中检查旋转孔效应的膜厚度依赖性。

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