...
首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >Структурные исследования нанокомпозитов ZnS:Cu(5ат%) в пористом Аl_2O_3 различной толщины
【24h】

Структурные исследования нанокомпозитов ZnS:Cu(5ат%) в пористом Аl_2O_3 различной толщины

机译:纳米复合材料的ZnS的结构研究:铜(5原子%)在各种厚度的多孔Al_2O_3的

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

Представлены результаты исследований методами EXAFS, XANES и рентгенодифракционных исследований наноразмерных структур ZnS:Cu (5ат%), полученных методом термического осаждения смеси порошков ZnS и Cu в матрицы пористого анодного оксида алюминия с диаметром пор 80 нм и толщиной 1, 3 и 5мкм. Проведено сравнение с результатами, полученными для пленок ZnS:Cu, осажденных на поверхность поликора. Рентгснофазовый анализ образцов показал наличие соединений меди и цинка с серой (Cu_2S и ZnS соответственно), причем последнее находится в кубической (сфалерит) и гексагональной (вюрцит) модификациях. EXAFS- и XANES-исследования на K-крае поглощения цинка и меди показали, что в образцах, напыленных на поликор и оксид алюминия толщиной 3 и 5 мкм, бóльшая часть атомов меди находится в соединении Cu_2S, тогда как в образце, напыленном на слой оксида алюминия толщиной 1 мкм, атомы меди формируют на поверхности образца металлические частицы. Наличие кристаллической меди оказывает влияние на межатомное расстояние Zn-S для образца с толщиной слоя пористого Al_2O_3 1 мкм: оно меньше по сравнению с характерным для других образцов.
机译:研究结果是通过纳米级结构ZnS:Cu(5at%)的XAAFS,XANES和X射线衍射研究提出:Cu(5at%)通过在多孔阳极氧化铝基质中的ZnS和Cu粉末中的热沉淀而获得的孔径而获得80nm和厚度为1,3和5mkm。用对ZnS膜的结果进行比较:Cu沉积在聚卡的表面上。样品的X射线相分析显示出铜和锌化合物,分别具有灰色(Cu_2s和Zns),后者是立方(闪锌矿)和六边形(Wurcite)的修饰。 Exafs-和Xanes研究锌和铜吸收的k区的研究表明,在喷涂多胶和氧化铝3和5μm厚的样品中,大多数铜原子在Cu_2s连接中,而在喷涂在氧化物上的样品中厚度为1μm的层铝,铜原子在样品表面上形成金属颗粒。结晶铜的存在影响样品的外部距离Zn-S,其具有多孔Al_2O_31μm的层厚度:与其他样品的特征相比,它较少。

著录项

  • 来源
  • 作者单位

    Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук 426000 Ижевск Россия;

    Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук 426000 Ижевск Россия;

    Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук 426000 Ижевск Россия;

    Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук 426000 Ижевск Россия;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 半导体物理学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号