首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >Гигантская отрицательная фотопроводимость пленок PbSnTe: In с краем чувствительности вблизи З0 мкм
【24h】

Гигантская отрицательная фотопроводимость пленок PbSnTe: In с краем чувствительности вблизи З0 мкм

机译:巨底片光电导PbSnTe:在靠近边缘Z0微米的灵敏度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Представлены экспериментальные результаты исследований динамики фотопроводимости пленок PbSnTe:In с высоким содержанием SnTc и с соответствующим краем фундаментального поглощения вблизи 30 мкм при гелиевых температурах. Рассмотрены возможные причины гигантской (выше 2 порядков) отрицательной фотопроводимости образцов.
机译:提出了Psnte光电导性动力学的实验结果:在具有高SNTC含量的薄膜中,呈氦温度下与30μm附近的相应边缘。 考虑了样品的负光电导性的巨大(高于2个订单)的可能原因。

著录项

  • 来源
  • 作者单位

    Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирское отделение Российской академии наук 630090 Новосибирск Россия;

    Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирское отделение Российской академии наук 630090 Новосибирск Россия;

    Институт физики микроструктур Российской академии наук 630950 Нижний Новгород Россия;

    Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирское отделение Российской академии наук 630090 Новосибирск Россия;

    Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирское отделение Российской академии наук 630090 Новосибирск Россия;

    Институт физики микроструктур Российской академии наук 630950 Нижний Новгород Россия;

    Институт физики микроструктур Российской академии наук 630950 Нижний Новгород Россия;

    Институт физики микроструктур Российской академии наук 630950 Нижний Новгород Россия;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 半导体物理学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号