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【24h】

アルゴイオンビームを使ったSEM用断面試料作成装置クロスセクションポリッシヤ(CP)SM-09010

机译:用于与横截面Porisshi雅(CP)SM-09010样品制备设备的Argo离子束SEM横截面

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摘要

複合材料などの断面観察では結晶粒の大きさ,層構造,反応層の膜厚や空隙などを知ることが重要であり,この場合,試料作製は機械研磨法を用いることが一般的である。 機会研磨法の場合,硬さの異なる材料の接合部や接合界面に生成される反応層などを平滑に鏡面研磨することは非常に困難である。 機会研磨法ではFig. 1に示すように,a)硬さの異なる材料を研磨すると柔らかい部分が先に削れるため凹凸ができる,B)柔らかい材料を研磨すると硬い研磨材が材料に埋め込まれる場合がある,C)柔らかい金属などの研磨では材料中に空隙があると材料が伸び変形する場合がある,d)材料中の空隙に研磨材が詰まってしまう,e)金属材料などでは研磨表面にできる加工歪みによって結晶の情報が得にくくなる,などの問題がある。
机译:在复合材料的横截面观察中,重要的是要了解晶粒的大小,层结构,反应层的膜厚度,空隙等。在这种情况下,样品制备通常用于使用机械抛光方法。 在机会抛光方法的情况下,非常难以平稳地抛光具有不同硬度的材料的粘合部分和在粘合界面处产生的反应层等。 在机会抛光方法中,如图1所示。嵌入材料中。一些c)抛光如软金属,如果在材料中存在气隙,则可以延伸和变形材料,d)磨料堵塞材料,它可以在材料中堵塞抛光表面。存在诸如处理失真的问题,导致待获得晶体的信息。

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