放射光軟X線磁気円二色性を用いた 薄膜磁性解析

摘要

X線磁気円二色性（XMCD)は固体磁性体材料のみならず磁性薄膜や表面の磁性を観測できる貴重で 有効な手段として幅広く哉されるようになった.その最大の特徴は，X線吸収であることに由来す る元素選択性であり，これに加え，磁性原子の軌道.スピン磁気モーメントが分離導出可能であること などが挙げられる.ここでは，分子研放射光施設uvsoR-mに設置されている超高真空高磁場極低温 XMCDシステムとナノプラットフォームを通じた最近の応用研究例などを紹介する.