エポン切片のイオンエッチングによる走査電顕試料作製法とその三次元再構築への応用

摘要

SEM生物試料の金属コーティングに広く使用されているイオンスパッタコーター（エッチング機能を備えた機種）を用いることにより，SEM観察のためのエポキシ樹脂切片のイオンエッチングが可能でり，これを応用することにより，組織レベルから細胞レベルにおける三次元再構築を，簡便かつ正確に行うことができる。 その方法の要点は以下の通りである。 1）印加電圧：300V2）真空度：0.15～0.20Torr3）処理時間：DCでは15～60分，ACでは30～90分4）電極-誌料間距離：4～8cm5）エッチング用試料の作製は,通常の透過電顕試料作製法に準じて行えばよい6）切片の厚さは0.1～0.2μmが必要である。 光顕との対比を要する場合は，0.5～1.0μmが望ましいさらに本法は，X線マイクロアナライザーなどの分析機器を併用することにより，細胞や組織に分布する様々な物質の同定を走査電顕下に可視化することが可能であり，今後，生物試料の走査電顕分野できわめて有効な手段となり得るものと思われる。