リフトオフの影響を考慮したニッケルメッキ厚みの電磁非破壊検査手法

摘要

現在、ニッケルメッキの厚み検査には蛍光X線が主に用いられているが、この検査手法は検査対象物から試験片を切り出して検査を行う必要があるため、メッキの局所検査や全数検査が困難である。本研究ではニッケルメッキとコーティングの母材となる鋼材（S25C鋼材）の電磁気特性差を検出することでニシケルメッキ厚みを非破壊で簡便に検査する手法について検討した。鋼材表面に発生する渦電流量の変化を位相差として検出することで、検査の際に問題となる鋼材からセンサまでの距離（リフトオフ）の影響も考慮した精度の高い検査を可能としたので以下に報告する。