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米イリノイ大が、液相による[MacEtch法]FinFETエッチング技術を開発、縦長で幅狭のフィンを作製することが可能に

机译:美国伊利诺伊州通过液相开发[玛塞方法] FinFET蚀刻技术,使垂直和窄鳍

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摘要

FinFETの製造で最も難しいプロセスは、パターニングとエッチングであるとされている。これに対応して、米イリノイ大学が縦長で幅狭のFinFET(フィンフェット)を作製する「メタルアシスト化学エッチング法」(MacEtch)と呼ばれる新規なエッチング技術を開発した。FinFETは、これまでの半導体の微細化の主力となってきた作り込み手法であるプレーナー型から立体構造を導入して、限界に迫ってきた微細化に対応しようという技術。そのためには、数十億個もあるトランジスタのフィン幅を制御しなければならない。具体的には、フィンの高さやSTIと呼ばれる浅いトレンチ分離の高さなどを制御する必要があるoFinFETプロセス技術のトレンドは、「より高く、より薄く、より直線的に」とされており、この目標に沿った技術開発が求められており、同大の開発したMacEtch法は、他のエッチング技術では類を見ないアスペクト比を有し、滑らかで均一な半導体と絶縁体のインターフェースによる安定した高性能を確保できるという。
机译:FinFET制造中最困难的过程被认为是图案化和蚀刻。对应于此,美国伊利诺伊州开发了一种称为“金属辅助化学蚀刻方法”(甲蚀刻)的新蚀刻技术,其产生垂直和窄的FinFET(FinFET)。 FINFET是一种技术从平面型引入三维结构,这是一种创建方法,该方法已经成为到目前为止半导体小型化的主体,并响应已经接近极限的小型化。为此,必须将晶体管的翅片宽度与数十亿相连。具体而言,需要控制翅片高度的高度和称为STI的浅沟槽隔离的OFINFET过程技术的趋势是“更高,更薄和更薄”,这是必需目标的技术开发,以及丙合在相同水平中开发的方法具有不看其他蚀刻技术的纵横比,并且通过光滑且均匀的半导体和绝缘体界面具有稳定的高度,据说可以确保性能。

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  • 来源
    《金属時評》 |2016年第2359期|共3页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 冶金工业;
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